(2)顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測(cè)量與實(shí)際顆粒投進(jìn)面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對(duì)這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。

　　由于這種方法單次所測(cè)到的顆粒個(gè)數(shù)較少，對(duì)同一個(gè)樣品可以通過更換視場(chǎng)的方法進(jìn)行多次測(cè)量來提高測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測(cè)試之外，它還常用來觀察和測(cè)試顆粒的形貌

　　(3)刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個(gè)平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評(píng)價(jià)樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。

　　(3)沉降法：依據(jù)顆粒的沉降速度作等效對(duì)比，所測(cè)的粒徑為等效沉速?gòu)?，即用與被測(cè)顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來代表實(shí)際顆粒的大小。有簡(jiǎn)單的沉降瓶法和按此原理設(shè)計(jì)的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進(jìn)行顆粒粒度的測(cè)量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測(cè)頭被檢測(cè)并拾取。因?yàn)榇笮〔煌念w粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間不同，因此通過記錄顆粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間，就可以知道顆粒的大小，

　　(4)電阻法：電阻法又叫庫(kù)爾特法，是由美國(guó)一個(gè)叫庫(kù)爾特的人發(fā)明的一種粒度測(cè)試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個(gè)小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測(cè)試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時(shí)，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào)，通過計(jì)算機(jī)對(duì)這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

　　(5)激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對(duì)激光的散射特性作等效對(duì)比，所測(cè)出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實(shí)際被測(cè)顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的大小。當(dāng)被測(cè)顆粒為球形時(shí)，其等效粒徑就是它的實(shí)際直徑。一般認(rèn)為激光法所測(cè)的直徑為等效體積徑。該方法測(cè)定速度快，不過從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

　　(6)透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個(gè)金屬管里并壓實(shí)，將這個(gè)金屬管安裝到一個(gè)氣路里形成一個(gè)閉環(huán)氣路。顆粒粒徑分析儀當(dāng)氣路中的氣體流動(dòng)時(shí)，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就??；樣品較細(xì)，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動(dòng)所受的阻礙就大。透氣法就是根據(jù)這樣一個(gè)原理來測(cè)試粒度的。這種方法只能得到一個(gè)平均粒度值，不能測(cè)量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

　　(7)超聲波法：通過不同粒徑顆粒對(duì)超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來測(cè)量粒度分布的一種方法。它可以直接測(cè)試固液比達(dá)到70%的高濃度漿料。

　　(8)相關(guān)法：用光子相關(guān)原理測(cè)量粒度的一種方法，主要用來測(cè)量納米材料的粒度分布。