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新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)---粒度分析講座邀請
點(diǎn)擊次數(shù)：3027 更新時(shí)間：2012-05-18
“2012 新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)”
顆粒特性分析技術(shù)講座
顆粒特性分析技術(shù)講座
邀請函
由美國貝克曼庫爾特公司主辦的、應(yīng)用專家Matthew N Rhyner 博士主講的“2012新機(jī)遇、新挑戰(zhàn)---顆粒特性分析新技術(shù)講座”將于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中國北京清華大學(xué)環(huán)境學(xué)院舉行。誠邀各界人仕參加。 講座內(nèi)容：
☆顆粒特性分析技術(shù)概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術(shù)
☆干粉分散的“ 龍卷風(fēng)”技術(shù)
☆ 庫爾特顆粒計(jì)數(shù)分析技術(shù)
☆ 高濃度Zeta電位測量的FST透明電極技術(shù)
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測量技術(shù)
☆顆粒特性分析技術(shù)概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術(shù)
☆干粉分散的“ 龍卷風(fēng)”技術(shù)
☆ 庫爾特顆粒計(jì)數(shù)分析技術(shù)
☆ 高濃度Zeta電位測量的FST透明電極技術(shù)
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測量技術(shù)
貝克曼庫爾特商貿(mào)（中國）有限公司
2012年5月18 日
